干法激光粒度儀采用的成型技術，使儀器結構緊湊合理，結構美觀，使用維修方便；采用微納抗干擾技術，使儀器的電氣穩(wěn)定性更好，故障率更低。那么，為什么在使用過程中數據會漂移呢？

　　干法激光粒度儀鏡頭和測試窗玻璃污染：光學儀器的鏡頭污染是常見的故障。作為粉末測試設備，激光粒度分析儀經常面對多塵的環(huán)境，而測試窗透鏡是直接接觸粉末樣品的光學設備。在使用環(huán)境中，諸如聚焦透鏡或準直透鏡之類的光學透鏡被浮塵或模具污染所污染，這將在純測量光束中產生雜散光。這些雜散光將混入樣品的散射光中，從而干擾測試。測量窗玻璃上的污染物將直接產生強散射光。因此，光學鏡片的污染是造成激光粒度分析儀測試結果漂移的主要原因。主要解決方案是將儀器保持在干燥，無塵的工作環(huán)境中。請按照操作步驟經常清潔鏡片，以確保光學鏡片的清潔度。
 

　　激光光路偏離：激光是生熱設備。在工作周期中，它們將反復加熱-冷卻-加熱。任何物體都會隨著熱量而膨脹和收縮，其幾何尺寸也會隨溫度而變化，光路裝配精度非常高。隨著儀器使用壽命的延長，光路幾乎不可避免地會偏移。光路的偏離將導致測量光束的光能的衰減和檢測器布置角度的漂移，這將導致測量數據的漂移。解決此問題的方法主要取決于儀器，以使光路偏離儀器設計的可能性降低，并且定期校準光路也非常重要。

　　采樣系統的周期和色散效率波動導致干法激光粒度儀的數據漂移相對隱蔽，因此很容易被忽略。樣品循環(huán)系統中使用的介質的特性，介質的流量，超聲分散設備的運行條件以及泵的速度會顯著影響測試數據并需要仔細注意。

　　光電探測器及其放大器電路參數漂移：這種問題應屬于儀器制造的質量水平。一般來說，任何電子電路和光電探測器都存在工作條件漂移的問題。區(qū)別僅在于漂移量。儀器的用戶通常無法解決此類問題，儀器需要校準儀器的電路工作條件系數。一些儀器可以校準其自身電路的漂移。

　　測量參數和測量條件的變化：分析模型，樣品測量參數和測試環(huán)境（例如濕度，測試介質溫度等）可能會影響測試數據。我們必須首先確保正確選擇測試分析模型和樣品測量參數（尤其是樣品折射率）。根據不同樣品和儀器的工作環(huán)境，測試環(huán)境的影響差異很大。